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Catalogue No. | CY3452 |
Compositions | Ti, SiO2, Si |
Taille | 2, 4, 6, 8" |
Épaisseur du film | Ti : 15-100nm, ou personnalisé |
Lesubstrat SiO2/Si revêtu de Ti peut être utilisé dans le domaine de la nanotechnologie, de la microscopie électronique à balayage (MEB), de la microscopie à force atomique (AFM) et d'autres microscopes à sonde à balayage. Stanford Advanced Materials (SAM) possède une grande expérience dans la fabrication et la fourniture de produits optiques de haute qualité.
Produits connexes : Substrat SiO2/Si revêtu de Cu, Substrat SiO2/Si revêtu de Ni, Plaque de silicium plaquée or, Plaque de silicium plaquée Pt, Plaque de silicium plaquée Ag
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