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Catalogue No. | CY3451 |
Composition (cubique) | Cu, Ta, SiO2 |
La purée | >99.99% |
Taille | 2, 4, 6, 8, 12" dia 0.525mm épaisseur |
Orientation | Cu <111> |
La plaquette de silicium Ta/SiO2 revêtue de cuivre peut être utilisée dans le domaine de la nanotechnologie, de la microscopie électronique à balayage (MEB), de la microscopie à force atomique (AFM) et d'autres microscopes à sonde à balayage. Stanford Advanced Materials (SAM) possède une grande expérience dans la fabrication et la fourniture de produits optiques de haute qualité.
Produits connexes : Substrat SiO2/Si revêtu de Ti, Substrat SiO2/Si revêtu de Ni, Plaque de silicium plaquée or, Plaque de silicium plaquée Pt, Plaque de silicium plaquée Ag
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