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  • CY3451 Plaque de silicium Ta/SiO2 revêtue de Cu

    • CY3451 Plaque de silicium Ta/SiO2 revêtue de Cu

    Catalog No. CY3451
    Composition Cu, Ta, SiO2
    Pureté ＞99.99%
    Dimensions 2, 4, 6, 8, 12" dia 0.525mm épaisseur
    Orientation Cu <111>

    La plaquette de silicium Ta/SiO2 revêtue de cuivre peut être utilisée dans le domaine de la nanotechnologie, de la microscopie électronique à balayage (MEB), de la microscopie à force atomique (AFM) et d'autres microscopes à sonde à balayage. Stanford Advanced Materials (SAM) possède une grande expérience dans la fabrication et la fourniture de produits optiques de haute qualité.

    Produits connexes : Substrat SiO2/Si revêtu de Ti, Substrat SiO2/Si revêtu de Ni, Plaque de silicium plaquée or, Plaque de silicium plaquée Pt, Plaque de silicium plaquée Ag

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