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Catalogue No. | CY3454 |
Compositions | Ni, SiO2, Si |
La purée | >99.99% |
Taille | 4", 10x10x0,5 mm, ou personnalisé |
Finition de la surface | Une face polie |
Orientation | <100> ±0.5° |
Lesubstrat SiO2/Si revêtu de Ni peut être utilisé dans le domaine de la nanotechnologie, de la microscopie électronique à balayage (MEB), de la microscopie à force atomique (AFM) et d'autres microscopes à sonde à balayage. Stanford Advanced Materials (SAM) possède une grande expérience dans la fabrication et la fourniture de produits optiques de haute qualité.
Produits connexes : Substrat SiO2/Si revêtu de Ti, Substrat SiO2/Si revêtu de Cu, Plaque de silicium plaquée or, Plaque de silicium plaquée Pt, Plaque de silicium plaquée Ag
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