CY3610 Plaque de diffraction zéro pour XRD, cristal de Si

Catalogue No.	CY3610
Matériau	Cristal de Si
Diamètre	1-12 pouces
Méthode de croissance	CZ, MCZ, FZ
Grade	Prime, Test, Dummy

Laplaque de diffraction zéro pour XRD est fabriquée en monocristal de Si et sert de support d'échantillon. Stanford Advanced Materials (SAM) possède une grande expérience dans la fabrication et la fourniture de produits optiques de haute qualité.

Produits connexes : Plaquette de silicium, plaquette de nitrure de gallium, plaquette de saphir, plaquette de carbure de silicium, plaquette de germanium (plaquette Ge).

ENQUÊTE

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Description

Spécifications

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Méthode de croissance	CZ, MCZ, FZ
Qualité	Première, test, factice, etc.
Diamètre	4 pouces / 100 mm (1 pouce - 12 pouces / 25,4 mm - 300 mm)
Épaisseur	50-5000um, etc.
Finition	SSP DSP, etc.
Orientation	(100) (111) (110) (211) (311) (511) (531), etc.
Découpe	jusqu'à 7deg
Type/Dopant	P/B, N/Phos, N/Sb, N/As, Intrinsèque
Résistivité	CZ/MCZ : de 0,001 à 100 ohm.cm
Résistivité	FZ : de 100 à >20000 ohm.cm

Méthode de croissance	CZ, MCZ, FZ
Catégorie	Première, test, factice, etc.
Diamètre	4 pouces / 100 mm (1 pouce - 12 pouces / 25,4 mm - 300 mm)
Épaisseur	50-5000um, etc.
Finition	SSP DSP, etc.
Orientation	(100) (111) (110) (211) (311) (511) (531), etc.
Découpe	jusqu'à 7deg
Type/Dopant	P/B, N/Phos, N/Sb, N/As, Intrinsèque
Résistivité	CZ/MCZ : de 0,001 à 100 ohm.cm
Résistivité	FZ : de 100 à >20000 ohm.cm

CY3610 Plaque de diffraction zéro pour XRD, cristal de Si

Description de la plaque de diffraction zéro

Spécifications de la plaque de diffraction zéro

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Emballage de la plaque de diffraction zéro

Spécifications

Fiche technique

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