Services analytiques

Stanford Advanced Materials (SAM) propose des services analytiques complets, notamment le contrôle dimensionnel, le test de conductivité électrique et la détermination de la taille des grains. Notre laboratoire avancé est équipé d'instruments de pointe pour des tests tels que le GDMS, l'ICP-MS et l'ICP-OES.

Nous réalisons également des essais de propriétés mécaniques à l'aide d'analyses SEM, TEM et de diffraction des rayons X (XRD), ce qui permet d'obtenir des informations précises sur le comportement des matériaux. Grâce à son engagement en faveur de la qualité et de la précision, SAM est votre partenaire de confiance pour des services d'essai et d'analyse fiables.

LISTE COMPLÈTE DES SERVICES

Contrôle dimensionnel

Le contrôle dimensionnel permet de mesurer et de vérifier avec précision les dimensions des composants afin de répondre aux spécifications exactes.

Test de conductance électrique

Le test de conductance électrique mesure la capacité des matériaux à conduire le courant électrique, garantissant ainsi des performances optimales dans les applications électriques.

GDMS

Le GDMS (Glow Discharge Mass Spectrometry) fournit une analyse élémentaire précise des matériaux solides, détectant les éléments à l'état de traces et en vrac pour le contrôle de la qualité et la vérification des matériaux.

Détermination de la taille des grains

La détermination de la taille des grains analyse la microstructure des matériaux pour évaluer la taille des grains, ce qui a un impact sur la résistance et les performances des matériaux.

ICP-MS

L'ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry) est une technique très sensible utilisée pour détecter et quantifier les éléments traces dans divers matériaux.

ICP-OES

L'ICP-OES (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy) est une technique utilisée pour la détection et l'analyse précises de plusieurs éléments dans un échantillon par émission de lumière.

Propriétés mécaniques

Les essais de propriétés mécaniques évaluent la résistance, l'élasticité, la dureté et la durabilité d'un matériau afin de s'assurer qu'il répond aux exigences de performance.

SEM

La microscopie électronique à balayage (MEB) permet d'obtenir des images détaillées de la surface des matériaux à des grossissements élevés pour une analyse structurelle précise.

TEM

La microscopie électronique à transmission (TEM) offre une imagerie à haute résolution des structures matérielles au niveau atomique pour une analyse approfondie.

Analyse par diffraction des rayons X (XRD)

L'analyse par diffraction des rayons X (DRX) permet d'identifier la structure cristalline des matériaux, ce qui donne un aperçu de la composition des phases et des propriétés des matériaux.

*Les clients qui achètent nos produits peuvent profiter 1. Prix réduits 2. Service accéléré.

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